현미경은 육안으로 볼 수 없는 작은 물체나 세부 사항을 확대하는 데 사용되는 과학 도구입니다. 현미경에는 여러 가지 유형이 있으며 각각 고유한 기능과 용도를 가지고 있습니다. 다음은 몇 가지 일반적인 유형의 현미경과 그 차이점입니다.
광학 현미경: 광학 현미경은 가시광선과 렌즈 시스템을 사용하여 샘플을 확대하고 관찰합니다. 광학 현미경에는 다음과 같은 여러 가지 하위 유형이 있습니다.
복합 현미경: 이 현미경은 여러 개의 렌즈를 사용하여 샘플을 확대합니다. 그들은 생물학과 의학에서 일반적으로 사용됩니다.
실체 현미경: 해부 현미경이라고도 알려진 실체 현미경은 샘플의 3차원 보기를 제공하며 종종 해부 또는 더 큰 표본을 검사하는 데 사용됩니다.
형광 현미경: 이 현미경은 특정 파장의 빛을 사용하여 샘플의 형광 분자를 여기시켜 특정 구조나 분자를 시각화할 수 있습니다.
전자현미경: 전자현미경은 시료를 확대하기 위해 빛 대신 전자빔을 사용합니다. 광학 현미경에 비해 훨씬 더 높은 배율과 해상도를 제공합니다. 전자현미경에는 두 가지 주요 유형이 있습니다.
주사 전자 현미경(SEM): SEM은 집중된 전자 빔으로 표면을 스캔하여 샘플의 상세한 3차원 이미지를 생성합니다. 그들은 일반적으로 재료 과학 및 생물학에 사용됩니다.
투과 전자 현미경(TEM): TEM은 샘플의 얇은 부분을 통해 전자 빔을 투과하여 고해상도 이미지를 생성합니다. 그들은 종종 세포와 물질의 내부 구조를 연구하는 데 사용됩니다.
스캐닝 프로브 현미경: 스캐닝 프로브 현미경은 물리적 프로브를 사용하여 샘플과 상호 작용하여 표면에 대한 자세한 정보를 제공합니다. 스캐닝 프로브 현미경에는 다음과 같은 다양한 유형이 있습니다.
원자현미경(AFM): AFM은 샘플 표면을 스캔하는 작은 프로브를 사용하여 프로브와 샘플 사이의 힘을 측정합니다. 원자 규모의 지형 정보를 제공할 수 있습니다.
주사 터널링 현미경(STM): STM은 프로브와 샘플 사이의 전자 흐름을 측정하여 원자 수준에서 표면 이미지를 생성합니다.